TECHNOLOGY

X射线检测技术

近年来,电动汽车的高密度安装板和电源模块的质量保证不断增加,对 X 射线检查的需求也在不断增加。 Saki开发了适用于SMT工艺板/元件检查和电源模块检查的X射线检查设备。我们独特的平面CT技术和计算技术使我们能够高速执行高难度的检查。

2D X 射线检测与 3D X 射线检测的区别

X射线检查主要是2D(包括2.5D)和断层扫描。 2D 检查可以进行简单的检查,例如桥接以及是否存在焊料。虽然简单,但二维图像无法区分上下表面,很容易出现变形和重叠的情况,这需要技巧来判断产品是否有缺陷或良品。

二维检测机获取的图像

另一方面,3D CT检查(断层扫描)擅长获取高清图像,还可以处理高难度的焊料空洞检查和不润湿检查。 Saki 的 3D X 射线检测系统采用独特的平面 CT 技术来计算包含待检测板的空间的数百张断层图像,并生成 3D 数据。通过捕捉上下表面高度分离的图像,无需担心重叠部分造成的阴影或扭曲,并且具有很高的检测精度。

由真正的 3D 检查机获取的图像

头枕

空洞不良

插入端子部件的焊料填充不足

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Saki独有的技术“平面CT法”

成像阶段

Saki的X射线检查设备在设备的上部中央安装有小焦点直径的X射线源。样品台和探测器台同步并以圆周运动移动,以不同角度捕获多个图像。 Saki独特的高精度控制可以让您获得边缘清晰的图像。

独特技术“平面CT”成像方法

3D图像生成阶段

通过将不同角度的多张图像应用到 CT 计算公式中,可以立即生成数百张断层图像。使用连接这些断层图像创建的 3D 图像,可以执行不会遗漏缺陷或小空隙的高清检查。

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“平面CT法”的优点

Saki的平面CT方法可以通过获取高分离度的图像来处理高难度的双面安装板的检查。由于不受反面安装元件的阴影影响,因此可以高精度地进行功率模块的焊锡检查。

PCB板

IGBT功率模块

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提高缺陷检测能力的图像处理技术

检测位置难以预测的板翘曲和空洞等缺陷需要先进的图像处理技术。 Saki的X射线检测设备采用精确的板面校正和真正的3D检测,准确识别检测目标,不错过微小的缺陷。

基材表面修正技术

这是一种自动校正板翘曲高度的技术。通过自动搜索安装检查目标的电路板表面并校正图像,可以进行精确的高度测量。该技术还应用于功率模块检查,以提取待检查的焊料表面并纠正电路板翘曲。

图像生成技术

校正在 XYZ 方向上跨越多个 FOV 的零件的接缝,以生成无缝 3D 图像。可以获取整个板表面的 3D 信息。

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高速检测同时支持在线处理

X 射线检查所需速度的指标之一是“与在线系统的兼容性”。 Saki的X射线检查设备实现了高精度检查和速度,并且用于SMT工艺的3D-CT AXI可以在线操作。该高速技术还应用于检查电源模块的X射线检查设备。

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实现高速的三大特点

高精度硬件设计

广域成像探测器

通过显着扩大一次可成像的区域,我们成功地将成像速度提高了约 50%。

独创的计算技术

图像采集的一致图像处理过程已经过优化,可加快数据处理速度并减少不必要的等待时间。

同时处理

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追求易用性和易操作性

3D X 射线检测可以执行难度很高的检测,但通常被认为操作困难。特别是,人们经常担心检查程序的创建和操作所需的小时数。 Saki 的 X 射线检测设备还注重降低运营成本。

使用 AOI 进行通用编程

Saki的3D-CT AXI可以利用同一SMT流程中引入的AOI程序创建数据来减少工作工时。高刚性的硬件设计和全板成像技术使程序管理能够以与AOI相同的方式操作。

与 AOI 共同操作

Saki的3D-CT AXI配备了与AOI相同的软件平台,因此可以轻松操作,具有与AOI相同的可操作性,减少了操作工时。此外,通过将检测结果与AOI和AXI集成并在同一屏幕上显示每个零件的结果,实现了生产线上一致的质量控制。

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实现各种检查

Saki的X射线检查设备配备了多种算法和过滤功能,使其能够处理广泛的检查目标。两种不同电压的X射线源可实现功率模块和IGBT以及SMT工艺的高精度检查。

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SMT制程检验

IC零件/芯片零件焊接缺陷

BGA 焊料空洞缺陷/不润湿

插入零件焊料填充不足

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功率模块/IGBT检测

根据IPC标准进行功率模块产品焊锡层空洞检查

还支持3层焊锡检测

Saki实现高速、高图像质量和高质量的X射线检查,同时满足X射线检查市场的多样化需求。