参加IPC APEX EXPO 2023
Saki的高速、高精度3D检测设备为美国制造商的制造工艺质量做出了贡献。
Saki Corporation（东京江东区，总裁兼首席执行官：Norihiro Koike，以下简称 Saki）将参加 2023 年 1 月 24 日至 26 日在加利福尼亚州圣地亚哥举行的 IPC APEX EXPO 2023。 Saki展位（展位号2475）将展出并演示最新的3D自动视觉检测设备（3D AOI）和X射线检测设备（3D AXI）。将首次在美国展出的3Di-LS3是新型3Di系列3D AOI，实现了业界最快的高性能检测，并配备了圆顶照明作为新的光学选项。该照明是一种具有现场升级功能的新选项，让您可以选择它来适应不断变化的检查环境。
展览概要如下。请来参观我们。
<新3D AOI>
3Di-LS3 – 全新3Di系列3Di-LS3拥有升级的高分辨率摄像系统，结合了高分辨率和扩展的高度测量，以业界最快的周期时间实现高性能检测。我们这次展示的设备配备了一个新选项，即圆顶照明，它可以为焊料形状的倾斜组件提供出色的可视性。多种现场升级选项提高了功能的可扩展性，有助于增强质量保证并提高生产效率。
< 3D SPI / 3D AOI >
3Di-ZS2 – 高精度 AOI，配有刚性框架和 Z 轴驱动光学头系统，3Di-ZS2 非常适合检查最大 686 x 870 毫米的大型基板。 Saki的3D-SPI和3D-AOI是在通用的软硬件平台上开发的，您还可以在3Di-ZS2演示中看到SPI的操作。
<3D 轴>
3Xi-M110 – 紧凑、轻便的 3D AXI，显着缩短了周期时间，3Xi-M110 使用 Saki 独特的平面 CT 技术来检测安装板和组件上的焊接缺陷，通过高精度检查有助于保证质量。在Saki展位上，我们还将介绍最新型号的M110。
Saki America 副总裁 Craig Brown 说道。 “我们很高兴向美国客户推出新的 3Di 系列 3Di-LS3。我们将继续发展支持美国制造的质量保证。凭借我们最新的产品系列，我们可以提供制造商所需的最高质量检验。我们期待着您的光临。”
